- Код статьи
- S0367676525020288-1
- DOI
- 10.31857/S0367676525020288
- Тип публикации
- Статья
- Статус публикации
- Опубликовано
- Авторы
- Том/ Выпуск
- Том 89 / Номер выпуска 2
- Страницы
- 328-332
- Аннотация
- Теоретически исследованы осцилляции параметра порядка, возникающие в результате пространственного квантования электронных состояний в квантовой яме, образованной стенками тонкой пленки сверхпроводящего алюминия. В таких объектах с уменьшением толщины наблюдается заметный рост критической температуры и уширение сверхпроводящего перехода. Эти эффекты интерпретируются как проявление квантового размерного эффекта, влияющего на плотность состояний электронов и, соответственно, влияющие на различные электронные свойства тонких пленок.
- Ключевые слова
- сверхпроводимость критическая температура тонкие пленки квантовый размерный эффект
- Дата публикации
- 16.09.2025
- Год выхода
- 2025
- Всего подписок
- 0
- Всего просмотров
- 14
Библиография
- 1. Shal’nikov A.I. // Nature. 1938. V. 9. P. 142.
- 2. Stromberg T.F., Swenson C.A. // Phys. Rev. Lett. 1962. V. 9. P. 370.
- 3. Хухорева И.С. // ЖЭТФ. 1962. Т. 41. №3. С. 728
- 4. Chubov P.N., Eremenko V.V., Pilipenko Yu.A. // Sov. Phys. JETP. 1969. V. 55. No. 3. P. 752.
- 5. Shanenko A.A., Croitoru M.D., Zgirski M. et al. // Phys. Rev. B. 2006. V. 74. Art. No. 052502.
- 6. Blatt J.M., Thompson C.J. // Phys. Rev. Lett. 1963. V. 10. P. 332.
- 7. Shanenko A.A., Croitoru M.D., Peeters F.M. // Europhys. Lett. 2006. V. 76. No. 3. P. 498.
- 8. Shanenko A.A., Croitoru M.D., Peeters F.M. // Phys. Rev. B. 2007. V. 75. Art. No. 014519.
- 9. van Weerdenburg W.M.J., Kamlapure A., Fyhn E.H. et al. // Sci. Advances. 2023. V. 9. No. 9. P. 5500.
- 10. Arutyunov K.Yu., Zavialov V.V., Sedov E.A. et al. // Phys. Stat. Sol. RRL. 2019. V. 13. Art. No. 1800317.
- 11. Арутюнов К.Ю., Седов Е.А., Голоколенов И.А. и др. // ФТТ. 2019. Т. 61. № 9. С. 1609
- 12. Седов Е.А. Исследование критической температуры сверхпроводящего перехода тонких пленок алюминия. Дисс. . . . канд. тех. наук. Москва: НИУ ВШЭ, 2024. 127 с.
